纳米颗粒跟踪分析仪
纳米颗粒跟踪分析仪 产品详情
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仪器简介：
zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。
zetaview的特点 - 全自动和无源稳定性
自动校准程序会持续工作，即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均，就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择：粒径，zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个测试模块中，盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。
提供不同波长的单激光、双激光(twin)和四激光(quatt)可选
自动扫描，多可达100个子体积；
自动聚焦；
小巧，便于携带；
防震动；
光源从紫外线到红光；
理论
平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率，可以得到zeta电位。
纳米粒子跟踪分析（nta）和动态光散射（dls）
所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的低检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其低检测限是10nm。通常，dls和nta的主要区别就在于浓度范围。对于dls，当样品浓度太低时，zetaview可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，dls方法会非常的适合。
测量范围
测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。
源于视频分析的颗粒计数
颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的小浓度为105粒子/cm3，大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒，大体积浓度为1000ppm。
准确度和精度
zeta电位：准确度5mv，精度4mv，重现性5mv；
粒度测试（对于100纳米的标准乳胶颗粒）：准确度6nm，精度4nm，重现性4nm；
浓度测试（100纳米的颗粒，浓度10mio粒子/ml）：准确度0.8 mio/ml，精度0.5mio/ml，重现性1mio/ml；
只要相机设置正确，样品处理适当，则以上所有的数据均有效。
方法
zetaview激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。
产品参数
测量原理 zeta电位（微点泳），粒径（布朗运动），颗粒浓度（视频评价）
光学设计 具有单个粒子跟踪功能的激光散射视频显微镜，自动准直和自动聚焦
测量池 石英玻璃测量池
相机 超高灵敏度的cmos相机
相机速度 3.5~60帧/秒可调
zeta电位测量范围 -500~+500mv
zeta电位适合的粒径范围 0.02-50μm
粒径测量范围 0.01-2μm，测量下限和上限依赖于样品和激光选择
可选激光波长 375nm，405nm，488nm，515nm，520nm，660nm
可选双激光波长 405nm和488nm，405nm和520nm，405nm和640nm，488nm和640nm，520nm和660nm
样品浓度范围 105-109粒子/ml（粒度），106-1010粒子/ml（zeta电位）
温度控制 rt-5℃~55℃
导电率范围 3μs/cm-15ms/cm
电源 90-240v，47-63hz，50va
激光安全 仪器安全保护class i:激光内部防护class 3b
尺寸 20x25x30cm（wxhxd）
重量 主机8.5kg
软件 系统控制，自动校准，跟踪单个粒子，zeta电位分布，粒径分布，颗粒计数，散点图描述和平均计算功能，导出报告功能
理论 根据smoluchewski方程，将电泳迁移率转换为zeta电位
根据stokes einstein方程，计算粒径分布
数据管理 视频、文本、pdf、单一或叠加输出
符合标准 astm e2834-12（粒径）和iso 13099-1,2,3（zeta电位）