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6月12日|半导体云讲堂—超快脉冲在先进的NVM测试中的应用及神经元网络测试前瞻

2020/6/11 8:28:37发布203次查看

更小存储单元尺寸(cell size),更高性能(performance)以及更低功耗(power consumption)是存储器业者持续追求的目标。
在过去的十年里,研究人员已经公布了几十种新的nvm技术,每种技术都需要测试读写速度、可靠性、功耗、存储密度和可扩展性等。除了常规的存储单元的读写特性,耐久性,可靠性等测试之外,新技术要求超高速(亚ns级)脉冲的输入和瞬态响应测试,以满足对实际读写速度的测试需求。
泰克一系列解决方案
rram作为一种新型存储器件广深研究人员青睐,由此引申的神经元网络技术方兴未艾。如何将测试仪器和技术引入到先进尖端的科研技术中,并帮助半导体产业的蓬勃发展,是泰克公司的使命。
直播亮点
本次直播,我们将重点介绍:
新型nvm器件测试
-  新型nvm(非易失性存储器)器件的典型测试
-  新型nvm测试方案
超快脉冲在nvm测试的应用及挑战
-  新型nvm测试调整分析
-  脉冲在测试中的应用
-  将超快脉冲应用到nvm测试中
神经元网络测试技术前瞻
-  忆阻器,神经元网络–前沿的ai 技术
-  实体测试系统搭建和测试挑战及愿景
直播日程
直播时间:
6月12号(周五)14:30 - 15:45
√ 14:30-15:00  
超快脉冲在先进的nvm测试中的应用及神经元网络测试前瞻
√ 15:00-15:30  
互动与答疑
√ 15:30-15:45  
抢答有奖
主讲人
赵咏梅
泰克科技公司
半导体行业开发经理
毕业于上海交通大学,获得信息与控制工程专业学士和硕士学位。2003年加入泰瑞达公司,负责半导体ate测试系统的售前技术支持工作;2007年加入泰克公司,负责keithley 产品线在大中华区技术支持工作;2017年任半导体行业开发经理职务。
在半导体测试测量行业从业17年,熟悉半导体功能测试和参数测试,致力于keithley全产品线在半导体,光电,精密电子,教育科研行业的方案建立和推广支持工作。

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